Overslaan en naar de inhoud gaan

Intel investeert in testfirma

Door geheugenchips al op de wafer te testen, kunnen fouten in een vroeg stadium worden opgespoord. Een defecte chip hoeft dan geen overbodige handelingen te ondergaan, wat te hoge productiekosten voorkomt.
Tech & Toekomst
Shutterstock
Shutterstock

Volgens AISI heeft de firma al een order gekregen voor een teststraat, waarmee geheugenchips voor gebruik in DDR-3 modules kunnen worden getest. Er is geen naam genoemd van de opdrachtgever, alleen dat die uit Azië afkomstig is.

De testapparaten kunnen snel worden afgesteld op verschilende types geheugens. Te denken valt aan de pinconfiguratie, de afmeting van de wafer en dergelijke. De testprobes maken contact met de hele wafer en de achterliggende elektronica is in staat om de werking van de individuele geheugenchips snel te testen. Doordat een hele wafer in één keer wordt getest, wordt ook een beeld gekregen van het hele productieproces. De fabrikant weet meteen hoe effectief zijn productielijn is.

Gerelateerde artikelen
Gerelateerde artikelen

Reacties

Om een reactie achter te laten is een account vereist.

Inloggen Word abonnee

Melden als ongepast

Door u gemelde berichten worden door ons verwijderd indien ze niet voldoen aan onze gebruiksvoorwaarden.

Schrijvers van gemelde berichten zien niet wie de melding heeft gedaan.

Bevestig jouw e-mailadres

We hebben de bevestigingsmail naar %email% gestuurd.

Geen bevestigingsmail ontvangen? Controleer je spam folder. Niet in de spam, klik dan hier om een account aan te maken.

Er is iets mis gegaan

Helaas konden we op dit moment geen account voor je aanmaken. Probeer het later nog eens.

Maak een gratis account aan en geniet van alle voordelen:

Heb je al een account? Log in

Maak een gratis account aan en geniet van alle voordelen:

Heb je al een account? Log in