Overslaan en naar de inhoud gaan
Achtergrond PRO
6 juli 2006 leestijd 1 minuut 0 reacties

Ruis in CMOS-chips eindelijk te bestrijden

Een recent ontwikkelde meetmethode die in staat is zeer lage niveaus van ruis in kaart te brengen, maakt het mogelijk de prestaties van elektronica verder op te voeren.
Redactie AG Connect
Redactie AG ConnectMeer van deze auteur
Tech & Toekomst
Shutterstock
Shutterstock

Lees dit PRO artikel gratis

Maak een gratis account aan en geniet van alle voordelen:

  • Toegang tot 3 PRO artikelen per maand
  • Inclusief CTO interviews, podcasts, digitale specials en whitepapers
  • Blijf up-to-date over de laatste ontwikkelingen in en rond tech
Word gratis lid en lees verder

Bevestig jouw e-mailadres

We hebben de bevestigingsmail naar %email% gestuurd.

Geen bevestigingsmail ontvangen? Controleer je spam folder. Niet in de spam, klik dan hier om een account aan te maken.

Er is iets mis gegaan

Helaas konden we op dit moment geen account voor je aanmaken. Probeer het later nog eens.

Maak een gratis account aan en geniet van alle voordelen:

Heb je al een account? Log in

Maak een gratis account aan en geniet van alle voordelen:

Heb je al een account? Log in